| 课程编号： 091M5001H |
课时： 40 |
学分： 2.0 |
| 课程属性： 专业普及课 |
主讲教师：李晓维等 |
| 英文名称： Testing and Testable Design of VLSI Systems |
教学目的、要求
本课程为计算机系统结构专业研究生的专业基础课。本课程的基本目的是使学生掌握VLSI系统测试和可测性设计的基本原理和主要方法，把握VLSI系统测试和可测性设计的学科前沿方向，并对EDA系统中有关测试和可测性设计工具有初步认识和实践体会。通过选修这门课程, 学生将对VLSI系统测试与可测性设计技术有较全面的认识, 不仅对各种具体技术（如故障模拟、自动测试生成、可测性设计等）的原理和方法有较准确的理解和掌握, 而且能对本学科前沿的发展情况有一个客观的把握。并且对一些EDA系统中测试与可测性设计工具能有切身的体会,得到一定的实践经验。
预修课程
数字逻辑、计算机组织与体系结构、数字系统设计自动化。
教 材
L.T.Wang, C-W.Wu, X.Q.Wen, VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES: DESIGN FOR TESTABILITY, Elsevier Science, ©2006
主要内容
课次 内容 教材 教师 日期
第1讲 VLSI测试技术导论 第1章 李晓维 2015-09-15
第2讲 可测试性设计 第2章 李晓维 2015-09-22
第3讲 可测试性设计 第2章 李晓维 2015-09-29
第4讲 逻辑与故障模拟 第3章 李晓维 2015-10-13
第5讲 测试生成 第4章 李华伟 2015-10-20
第6讲 逻辑自测试 第5章 李华伟 2015-10-27
第7讲 测试压缩 第6章 韩银和 2015-11-03
第8讲 逻辑诊断 第7章 李华伟 2015-11-10
第9讲 存储器测试与BIST 第8章 韩银和 2015-11-17
第10讲 存储器诊断与BISR 第9章 韩银和 2015-11-24
第11讲 边界扫描与SOC测试 第10章韩银和 2015-12-01
第12讲 纳米电路测试技术 第12章李华伟 2015-12-08
第13讲 总结与复习 李华伟 2015-12-15
考试 课堂开卷 2015-12-22
教学方式：课堂讲授为主、每周讲授3学时, 讲义和辅助材料通过网络发布。
考核方式：1篇课程论文，1次期末考试，课程论文占总成绩的40%。
参考文献
(1)李晓维、韩银和、胡瑜、李佳 著《数字集成电路测试优化——测试压缩,测试功耗优化,测试调度》, 科学出版社, 2010年6月, ISBN 978-7-03-026463-3, 433千字, 344页
(2)M.L.Bushnell and V.D.Agrawal, ESSENTIAL OF ELECTRONIC TESTING for Digital Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits, Kluwer Academic Publishers, ©2000
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